為了研究材料吸水的影響，測量了含不同缺陷(缺陷長度60 m m)以及經(jīng)過不同預(yù)處理樣品的泄露電流。預(yù)處理方法包括50℃干燥、蒸餾水中水煮24h和66h，以及水煮后重新干燥(50℃)。在正常環(huán)境下進(jìn)行試驗(yàn)，無人造霧，環(huán)境溫度T=25℃±1，相對濕度RH=60％～70％。如果沒有特殊說明，下面所得的泄露電流都是在電壓穩(wěn)定1 m in后測量的結(jié)果。
對以下進(jìn)行試驗(yàn)的樣品，當(dāng)試驗(yàn)電壓低于29kV時(shí)，所有樣品的泄露電流均低于0.2 m A(圖3)。泄漏電流結(jié)果顯示：含銅片缺陷的復(fù)合絕緣子在試驗(yàn)電壓約為9kV時(shí)出現(xiàn)了內(nèi)部局部放電。而對于含木片缺陷的樣品，同樣在試驗(yàn)電壓高于29kV時(shí)觀察到內(nèi)部局部放電現(xiàn)象的發(fā)生。
經(jīng)過水煮之后，樣品的泄露電流發(fā)生顯著變化。對于經(jīng)過24 h水煮的樣品，含木片與含區(qū)域脫粘的樣品的泄露電流值，分別在試驗(yàn)電壓為21 kV與25 kV時(shí)出現(xiàn)了明顯的上升(圖4)。而對于經(jīng)過66 h水煮的樣品，在所有樣品中均出現(xiàn)了泄露電流幅值的大幅升高(圖5)
在試驗(yàn)過程中，當(dāng)泄露電流大幅度升高時(shí)．通過紅外相機(jī)也可以觀察到復(fù)合絕緣子樣品表面溫度上升，并且在缺陷位置附近出現(xiàn)局部發(fā)熱點(diǎn)(圖6、圖7)。只有不含缺陷的完好的參照絕緣子的泄露電流與表面溫度分布沒有明顯的變化。http://qftd.net
