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輕便型β測厚儀項目簡介
2014-8-27 來源：正航儀器 作者：正航網(wǎng)絡 閱讀：次
輕便型β厚儀根據(jù)氪射線穿過薄膜材料時的減弱規(guī)律，利用數(shù)字和模擬電路進行運算，顯示薄膜厚度。這種測厚儀可廣泛應用于薄膜、紙張、橡膠、織物等材料的厚度測量，是非接觸式測量儀表。與光電、電容、經(jīng)外等測厚儀相比，有許多優(yōu)點：體積小，耗電省，可交直流供電，便于攜帶使用，而且適于在各種不良環(huán)境下工作，對各種色彩、花紋及復合材料均可有效使用。
該儀器備有臺式、叉式和反射式三種探頭供用戶選用，既可用于質(zhì)管部門實驗室測試，又可用于各種生產(chǎn)現(xiàn)場在線連續(xù)監(jiān)測。主要技術(shù)指標：
測厚范圍：
量程一：5 g/m2-200g/m2（密度為1g/m3的薄膜相當于5μm-200μm）；
量程二：30 g/m2-1000g/m2（密度為1g/m3的薄膜相當于30μm-1mm）；
測厚精度：厚度≤20 g/m2時為±1g/m2 ，厚度＞20 g/m2時為±5％。http://qftd.net
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