

可靠性壽命試驗(yàn)中壽命與應(yīng)力的關(guān)系:
應(yīng)力與壽命是密切相關(guān)的。應(yīng)力的種類與水平,是決定產(chǎn) 品壽命的一個(gè)重要因素I應(yīng)力及其水平的選擇是否恰&將決 定試驗(yàn)?zāi)芊襁_(dá)到預(yù)期的目的,因此,有必要研究它們之間的關(guān)系。
產(chǎn)品的壽命與應(yīng)力之間的關(guān)系,是以一定的物理模型為依據(jù)的。常見(jiàn)的物理模型有失效率模型,應(yīng)力與強(qiáng)度模型,最弱鏈條模型和反應(yīng)速度模型。
失效率模型是將失效率曲線劃分為早期失效,隨機(jī)失效和磨損失效三個(gè)階段,并將每個(gè)階段的產(chǎn)品失效機(jī)理與其失效率 相聯(lián)系起來(lái)。人們經(jīng)過(guò)仔細(xì)的觀察和分類,將失效分為17種類 型:即吸附W效、電弧失效、齒隙(使機(jī)械運(yùn)動(dòng)停止)失效、 機(jī)械運(yùn)動(dòng)缺陷失效、表面皺裂失效、碳化失效、摩擦失效、化 學(xué)污染失效、變形失效、失真失效、漂移失效、破損失效、泄 漏失效、噪聲失效、開(kāi)路失效、短路失效和不穩(wěn)性失效等。如果能把每一類失效都求出其失效率,那么,對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的分析 將帶來(lái)很大的方便。
應(yīng)力與強(qiáng)度模型就是研究實(shí)際環(huán)境應(yīng)力與產(chǎn)品所能承受的 強(qiáng)度的關(guān)系。應(yīng)力與強(qiáng)度均為隨機(jī)變量,因此,產(chǎn)品的失效與 否將決定于應(yīng)力分布和強(qiáng)度分布。隨著時(shí)間的推移,產(chǎn)品的強(qiáng) 度分布將逐漸發(fā)生變化,如果應(yīng)力分布與強(qiáng)度分布一旦發(fā)生了 干預(yù),產(chǎn)品就會(huì)出現(xiàn)失效,因此,研究應(yīng)力與強(qiáng)度模型對(duì)了解 產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)能力是很重要的。
最鏈條模型躉棊于元器件的失效是發(fā)生在構(gòu)成元器件的 諸因素中最薄弱的部位這—事實(shí)而提出來(lái)的。這種模型,對(duì)于 研究電子產(chǎn)品在高溫下發(fā)生的失效現(xiàn)象最為有效,因?yàn)檫@類失 效正是由于元器件內(nèi)部潛在的微觀缺陷和污染,在經(jīng)a制造和 使用后而逐漸顯露出來(lái)的。暴露最顯著、最迅速的地方,就是最薄弱的地方,也是最先失效的地方。
反應(yīng)速度模型反映了反應(yīng)速度與溫度的關(guān)系。這種模型認(rèn) 為,產(chǎn)品的失效是由于微觀的分子與原子結(jié)構(gòu)發(fā)生了物理或化 學(xué)的變化而引起的,從而導(dǎo)致在產(chǎn)品特性參數(shù)上的退化,當(dāng)這 種退化超過(guò)了某一界限,就發(fā)生失效。在可靠性試驗(yàn)中通常應(yīng) 用的阿列尼烏斯模型和愛(ài)林模型,都屬于這一類。